散乱式粒度分布測定装置
LA-920（㈱堀場製作所）
♦ 仕様
| 測定原理 | Mie散乱理論 |
|---|---|
| 測定粒子径範囲 | 20nm～2000μm |
| 測定時間 | 20秒（測定開始～結果表示） |
| 光源 | He-Neレーザ（632.8nm）, タングステンランプ(400nm) |
| 検出器 | リング状75分割Siフォトダイオード、Siダイオード |
| 循環系 | 超音波プローブ 30W, 22.5kHz |
| 使用温度 | 室温 |
| 必要試料量 | フロー式セル使用；10mg～5g（分散媒200mL） |
| バッチ式セル使用；10mL（透過率75-90%） |
♦ 問い合わせ先（依頼測定含む）
＊相談の内容によってはお断りさせていただく場合があります。ご了承ください。
♦ 管理責任者
工学研究科 化学システム工学専攻 向井康人 准教授
♦ 設置場所
C3④ 理学部共用館3階302号室 分析・物質技術支援室